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當(dāng)前位置:九域半導(dǎo)體科技(蘇州)有限公司>>產(chǎn)品展示>>晶圓方阻測試儀
外延電阻率方阻測試儀:外延是半導(dǎo)體工藝當(dāng)中的一種。在bipolar工藝中,硅片最底層是P型襯底硅(有的加點埋層);然后在襯底上生長一層單晶硅,這層單晶硅稱為外延...
襯底電阻率方阻測試儀:襯底,或稱基片(substrate),是指在半導(dǎo)體器件制造過程中用來支持其他材料或結(jié)構(gòu)的底層材料。襯底的物理性質(zhì)包括其晶體結(jié)構(gòu)、機械強度、...
玻璃方阻測試儀應(yīng)用ITO導(dǎo)電玻璃的時候,往往會提到一個重要的參數(shù),這個參數(shù)就是:方阻,也稱方塊電阻。同時,我們也可以將其理解為ITO的表面電阻率。
氮化鎵電阻率方阻測試儀:氮化鎵是一種無機物,化學(xué)式GaN,是氮和鎵的化合物,是一種直接能隙(direct bandgap)的半導(dǎo)體,自1990年起常用在發(fā)光二極...
晶圓電阻率測試儀:電阻率(resistivity)是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。在溫度一定的情況下,有公式R=ρl/S,其中ρ就是電阻率,l為材料的長度,...
我司憑借先進的技術(shù)和豐富的產(chǎn)品線,已發(fā)展成為中國大陸少數(shù)具有一定國際競爭力的半導(dǎo)體專用設(shè)備提供商,主營非接觸方阻測試儀、晶圓方阻測試儀,方阻測試儀,硅片電阻率測...
主營產(chǎn)品:晶圓方阻測試儀、晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測試儀,少子壽命測試儀,測試硅片,碳化硅、科...
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